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ATF750C-7PX |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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cpld - complex programmable logic devices 750 gate epld 15ns, cerdip, 883c |
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ATF750C-7SX |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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cpld - complex programmable logic devices 750 gate epld 15ns, cerdip, 883c |
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AT28C010-12EM/883 |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom 1M 5V sdp - 120ns 32lcc 883c |
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AT28C010E-15EM/883 |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom parallel eeprom 5V-150ns, 883c |
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AT28C010-15EM/883 |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom 1M 5V sdp - 150ns 32lcc 883c |
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AT28C010E-15LM/883 |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom parallel eeprom 5V-150ns, 883c |
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AT28C010-15FM/883 |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom 1M 5V sdp - 150ns flatpack 883c |
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AT28C010-12FM/883 |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom 1M 5V sdp - 120ns flatpack 883c |
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AT28HC256-90FM/883 |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom 256k 5V sdp - 90ns flatpack 883c |
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AT28HC256E-12JU |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom parallel eeprom 5V-120ns, 883c, GR |
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AT28C010-12LM/883 |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom 1M 5V sdp - 120ns 44lcc 883c |
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AT28C010-12UM/883 |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom 1M 5V sdp - 120ns pga 883c |
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AT28HC256-12UM/883 |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom 256k 5V sdp - 120ns pga 883c |
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AT28C256-15UM/883 |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom 256k 11mil grind - 150ns pga 883c |
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AT28HC256E-12TU |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom parallel eeprom 5V-120ns, 883c, GR |
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AT28HC256E-12SU |
Atmel |
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半导体
集成电路 - IC
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eeprom parallel eeprom 5V-120ns, 883c, GR |
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AD203 |
Analog Devices Inc |
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传感器,变送器
放大器
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优势和特点 产品详情 坚固设计:经过mil-std-883c特性测试 环境测试方法 1004(防潮性) 1010条件B(温度循环,-55°C至+125°C) 2002条件B(机械冲击,1,500 g (0.5 ms)) 2004(导联线完整性) 2007条件A(可变频率振动,20g) 2015(耐溶剂性能) -可靠设计:符合严格的质量和可靠性标准 在整个军用温度范围内进行特性测试 额定性能:-55°C至+125°C 10 khz全功率带宽 低非线性度:±0.025%(最大值) 宽输出范围:±10 V(最小值,至2.5 kΩ负载) 高cmv隔离度:1500 V rms连续 隔离电源:±15 V DC (±5 mA) 小尺寸:2.23"x0.83"x0.65" 56.6 mmx21.1 mmx16.5 mm 非专用输入放大器 通过变压器耦合实现双端口隔离 |
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P82B715 |
NXP Semiconductors |
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半导体
接口
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双路,双向,单位电压增益缓冲器,无需外部方向控制 与i2c总线及其衍生产品smbus,pmbus,ddc等兼容 逻辑信号电平可能包括(但不超过)电源和接地 逻辑信号输入电压电平输出不变,与V CC无关 x10阻抗变换,但不改变逻辑电压电平 电源电压范围3 V至12 V 在其他系统延迟允许的情况下,时钟速度至少为100 khz和400 khz esd保护超过每mil 2500 V hbm。符合Jesd22-a115的std 883c-3015.7和400 V MM(I / O具有连接至vcc和gnd的二极管) 闩锁测试已按照超过100 mA的jedec标准Jesd78进行 |