图片 |
型号 |
厂商 |
标准 |
分类 |
描述 |
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74F401PC |
Fairchild Semiconductor |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
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IC 16-bit gen/chker 14dip |
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74F280PC |
Fairchild Semiconductor |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
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IC 9-bit gen/chker 14dip |
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74F402PC |
Fairchild Semiconductor |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
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IC 16-bit gen/chker 16dip |
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DM74AS280N |
Fairchild Semiconductor |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
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IC 9-bit gen/chker 14dip |
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DM74AS286N |
Fairchild Semiconductor |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
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IC 9-bit gen/chker 14dip |
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SN74ALS280DR |
Texas Instruments |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
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IC 9-bit gen/chker 14soic |
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SN74AS280DR |
Texas Instruments |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14soic |
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DM74AS286M |
Fairchild Semiconductor |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14soic |
|
SN74S280N |
Texas Instruments |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14dip |
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74AC280SJ |
Fairchild Semiconductor |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14sop |
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CY74FCT480BTSOCTG4 |
Texas Instruments |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
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IC 8-bit gen/chker 24soic |
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SN74ALS280DRG4 |
Texas Instruments |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14soic |
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SN74ALS280DG4 |
Texas Instruments |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14soic |
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74ACT11286N |
Texas Instruments |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14dip |
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74ACT11286NE4 |
Texas Instruments |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14dip |
|
SN74AS280DRG4 |
Texas Instruments |
  |
集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14soic |
|
SN74AS286DRG4 |
Texas Instruments |
  |
集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14soic |
|
SN74AS286NSRG4 |
Texas Instruments |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14so |
|
SN74LS280DRG4 |
Texas Instruments |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
|
IC 9-bit gen/chker 14soic |
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MC10H160FN |
ON Semiconductor |
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集成电路
逻辑 - 奇偶校验发生器和校验器
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IC 12-bit gen/chker 20plcc |