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Image: AMC1303E2510 AMC1303E2510 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻器的电流测量进行优化的引脚可兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 10mhz 和 20mhz 时钟选项 出色的直流性能： 偏置误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 温漂：±1 µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 瞬态抗扰度：100kV/µs（典型值） 系统级诊断 特性 安全相关认证： 符合 din V vde V 0884-11 (vde V 0884-11): 2017-01 标准的 7000 vpk 增强型隔离 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 5000vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 额定扩展工业温度范围：–40°C 至 +125°C
Image: AMC1303E0510 AMC1303E0510 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻器的电流测量进行优化的引脚可兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 10mhz 和 20mhz 时钟选项 出色的直流性能： 偏置误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 温漂：±1 µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 瞬态抗扰度：100kV/µs（典型值） 系统级诊断 特性 安全相关认证： 符合 din V vde V 0884-11 (vde V 0884-11): 2017-01 标准的 7000 vpk 增强型隔离 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 5000vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 额定扩展工业温度范围：–40°C 至 +125°C
Image: AMC1303E0520 AMC1303E0520 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻器的电流测量进行优化的引脚可兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 10mhz 和 20mhz 时钟选项 出色的直流性能： 偏置误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 温漂：±1 µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 瞬态抗扰度：100kV/µs（典型值） 系统级诊断 特性 安全相关认证： 符合 din V vde V 0884-11 (vde V 0884-11): 2017-01 标准的 7000 vpk 增强型隔离 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 5000vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 额定扩展工业温度范围：–40°C 至 +125°C
Image: AMC1303M0520 AMC1303M0520 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻器的电流测量进行优化的引脚可兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 10mhz 和 20mhz 时钟选项 出色的直流性能： 偏置误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 温漂：±1 µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 瞬态抗扰度：100kV/µs（典型值） 系统级诊断 特性 安全相关认证： 符合 din V vde V 0884-11 (vde V 0884-11): 2017-01 标准的 7000 vpk 增强型隔离 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 5000vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件接受服务通知、iec 60950-1 和 iec 60065 终端设备标准 额定扩展工业温度范围：–40°C 至 +125°C
Image: AMC1306M05 AMC1306M05 Texas Instruments 半导体 隔离器 针对基于分流电阻器的电流测量进行优化的引脚可兼容系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 出色的直流性能： 失调电压误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 温漂：1µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 瞬态抗扰性：100kV/µs（典型值） 系统级诊断 功能 安全相关认证： 7000vpeak 增强型隔离，符合 din vde V 0884-11: 2017-01 标准 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 5000vrms 隔离 符合 can/csa No. 5A 组件验收服务通知和 iec 62368-1 终端设备标准 完整的额定工作温度范围：–40°C 至 +125°C
Image: AMC1106M05 AMC1106M05 Texas Instruments 半导体 隔离器 ±50mv 输入电压范围，针对使用分流电阻器测量电流进行了优化 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 出色的直流性能，支持系统级高精度检测： 失调误差和温漂：±50 µV，±1 µV/°C（最大值） 增益误差和温漂：±0.2%，±40 ppm/°C（最大值） 3.3V 运行电压，可降低隔离栅两侧的功率耗散 系统级诊断 特性 高电磁场抗扰度
Image: AMC1106E05 AMC1106E05 Texas Instruments 半导体 隔离器 ±50mv 输入电压范围，针对使用分流电阻器测量电流进行了优化 曼彻斯特编码或未编码的位流选项 出色的直流性能，支持系统级高精度检测： 失调误差和温漂：±50 µV，±1 µV/°C（最大值） 增益误差和温漂：±0.2%，±40 ppm/°C（最大值） 3.3V 运行电压，可降低隔离栅两侧的功率耗散 系统级诊断 特性 高电磁场抗扰度
Image: AMC1305M05-Q1 AMC1305M05-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 互补金属氧化物半导体 (cmos) 或低压差分信令 (lvds) 数字接口选项 出色的直流性能：
Image: AMC1304L05-Q1 AMC1304L05-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-Q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离
Image: AMC1304M05-Q1 AMC1304M05-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-Q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件验收服务通知
Image: AMC1304M05-Q1 AMC1304M05-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-Q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件验收服务通知 瞬态抗扰度：15kv/µs（最小值） 高电磁场抗扰度 （请参见应用手册 slla181a） 5mhz 至 20mhz 外部时钟输入 18v 片载低压降 (ldo) 稳压器
Image: AMC1304L25-Q1 AMC1304L25-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-Q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv cmos 或 lvds 数字接口选项 出色的直流性能： 偏移误差：±50µV 或 ±100µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.2% 或 ±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值）
Image: AMC1305L25-Q1 AMC1305L25-Q1 Texas Instruments 半导体 隔离器 汽车电子 应用认证 具有符合 aec-q100 的下列结果： 温度等级 1：-40°C 至 +125°C 人体放电模式 (hbm) 静电放电 (esd) 分类等级 2 组件充电模式 (cdm) esd 分类等级 C6 与以下器件引脚兼容的系列： 输入电压范围为 ±50mv 或 ±250mv 互补金属氧化物半导体 (cmos) 或低压差分信令 (lvds) 数字接口选项 出色的直流性能： 偏移误差：±50µV 或 ±150µV（最大值） 偏移漂移：1.3µV/°C（最大值） 增益误差：±0.3%（最大值） 增益漂移：±40ppm/°C（最大值） 安全相关认证： 7000 vpk 增强型隔离，符合 din V vde V 0884-10 (vde V 0884-10): 2006-12 标准 符合 UL 1577 标准且长达 1 分钟的 5000 vrms 隔离 can/csa No. 5A 组件验收服务通知
Image: AMC1302 AMC1302 Texas Instruments 半导体 隔离器 ±50mv 输入电压范围，适用于低功率耗散且基于分流电阻器的电流测量 低温漂固定增益：41 ± 0.3％，±50ppm/°C 低输入失调电压和温漂：±100µV，±0.8µV/°C 低非线性和温漂：±0.03%，±1ppm/°C 在 3.3V 电源下工作时，隔离式高侧功率耗散非常低 系统级诊断 功能 安全相关认证： 符合 din V vde V 0884-11: 2017-01 标准的 7071vpk 增强型隔离 符合 ul1577 标准且长达 1 分钟的 5000vrms 隔离 工业工作温度范围： -55°C 至 +125°C 高 cmti：80kv/µs（典型值），55kv/µs（最小值）

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