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Image: C8051F850-GDI C8051F850-GDI Silicon Laboratories Inc 嵌入式解决方案 评估板 - 嵌入式 - MCU, DSP tested 25 mips 8 kB flash mixed-signal mcu die in wafer form
Image: BT-301-50M BT-301-50M Wakefield 工具 化学物质 these adhesives were tested in our laboratory for flame retardancy properties. according to our test results they meet the requirements of ul94hb.
Image: LMH6723 LMH6723 Texas Instruments 半导体 晶体管 宽电源电压范围 m2901:2ー36vdcor ± 1ー ± 18vdclarge 信号带宽和摆率100% tested370mhz 带宽(av = 1，vout = 0.5 vpp)-3 db bw260mhz (av = + 2 v/v，vout = 0.5 vpp)-3 db bw1 ma 电源电流电流电流输出 t110ma，0.03% ,0.11 ° 差分增益，0.1 db 增益平坦度至100mhz/fast 转换速率: 600v/sunity 增益稳定单位供应范围为4.5ー12v,(lmh6723)甚低电源电流漏极(0.8 ma)ー与电源电压无关的输入偏置电流: 25nalow 输入偏置电流: ± 5nalow 输入偏置电压: ± 3mvv 输入共模电压范围包括 gndmr 差分输入电压范围等于电源电压低输出饱和电压: 250mv，在与 ttl，dtl，ecl，mos 和逻辑系统兼容的4倍输出电压下
Image: DS2174Q DS2174Q Maxim Integrated 半导体 集成电路 - IC telecom ics enhanced bit error rate tester (bert)
Image: DS21372TN DS21372TN Maxim Integrated 半导体 集成电路 - IC communication ics - various 3.3V bit error rate tester (bert)
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Image: DS2172T/T&R DS2172T/T&R Maxim Integrated 半导体 集成电路 - IC telecom ics bit error rate tester (bert)
Image: DS2172T DS2172T Maxim Integrated 半导体 集成电路 - IC telecom ics bit error rate tester (bert)
Image: DS2174QN+T&R DS2174QN+T&R Maxim Integrated 半导体 集成电路 - IC telecom ics enhanced bit error rate tester (bert)
Image: DS2172T+ DS2172T+ Maxim Integrated 半导体 集成电路 - IC telecom ics bit error rate tester (bert)
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Image: DS2172TN+T&R DS2172TN+T&R Maxim Integrated 半导体 集成电路 - IC telecom ics bit error rate tester (bert)
Image: DS21372T+ DS21372T+ Maxim Integrated 半导体 集成电路 - IC communication ics - various 3.3V bit error rate tester (bert)
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Image: FT-3 FT-3 Cooper Bussmann 电路保护 熔丝座 fuse holder fuse tester/puller

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