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图片 型号 厂商 标准 分类 描述
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Image: 017466 017466 Crystek Corporation 无源元器件 频率控制器和定时装置 crystals 16.0mhz chipset for maxim
Image: PL673-51QC PL673-51QC Micrel Inc 无源元器件 频率控制器和定时装置 standard clock oscillators laser meter chipset
Image: PL673-51QC-R PL673-51QC-R Micrel Inc 无源元器件 频率控制器和定时装置 standard clock oscillators laser meter chipset
Image: 017538 017538 Crystek Corporation 无源元器件 频率控制器和定时装置 crystals 27.2mhz chipset for TI
Image: SFH 2701 SFH 2701 OSRAM Opto Semiconductors Inc 传感器，变送器 光学传感器 photodiodes photodiode chipled
Image: SFH 3710-Z SFH 3710-Z OSRAM Opto Semiconductors Inc 传感器，变送器 光学传感器 phototransistors phototransistor (als) smt chipled
Image: TSL45315CL TSL45315CL ams 传感器，变送器 光学传感器 light to digital converters ltd 3V vdd/3V 29h-add 4pin chipled
Image: TSL45313CL TSL45313CL ams 传感器，变送器 光学传感器 light to digital converters ltd 3V vdd/1.8vbus 39h-add 4pin chipled
Image: WSXS-A-FP-CHNES-TR WSXS-A-FP-CHNES-TR Teledyne LeCroy 测试和测量 示波器 benchtop oscilloscopes wsxs-A chinese TD front panel overlay
Image: WSXS-A-FP-CHNES-SI WSXS-A-FP-CHNES-SI Teledyne LeCroy 测试和测量 示波器 benchtop oscilloscopes wsxs-A chinese SI front panel overlay
Image: GSS-4-7-G GSS-4-7-G IDI 测试和测量 测试设备配件 contact probes headed 37 deg 3 side chisel
Image: S-3-J-7-G S/C SS SPGS S-3-J-7-G S/C SS SPG... IDI 测试和测量 测试设备配件 contact probes headless radius chisel SS spgs
Image: S-075-T-3-G S-075-T-3-G IDI 测试和测量 测试设备配件 contact probes 60 degree chisel
Image: S-100-SP-6.7-G-S S-100-SP-6.7-G-S IDI 测试和测量 测试设备配件 contact probes headless sharp chise
Image: S-1-K-2-G D/C .670 OAL S-1-K-2-G D/C .670 O... IDI 测试和测量 测试设备配件 contact probes headed 4 sided chisel
Image: S-1-K-3.8-G D/C .670 OAL S-1-K-3.8-G D/C .670... IDI 测试和测量 测试设备配件 contact probes chisel point sprinf probe
Image: SS-50-T4-2.9-G S/C SS-50-T4-2.9-G S/C IDI 测试和测量 测试设备配件 contact probes headed 45 deg chisel 0.035
Image: S-100-T-8-G S-100-T-8-G IDI 测试和测量 测试设备配件 contact probes headed 60 degree chisel probe
Image: GSS-8-3.8-G S/C W/HOLE .415 OAL GSS-8-3.8-G S/C W/HO... IDI 测试和测量 测试设备配件 contact probes headed 60 deg 3 side chisel

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