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| 图片 | 型号 | 厂商 | 标准 | 分类 | 描述 |
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| 图片 | 型号 | 厂商 | 标准 | 分类 | 描述 |
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SN74BCT8374ADW | Texas Instruments |   |
半导体 集成电路 - IC | specialty function logic device w/octal D-typ edge-trig flip-flop |
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SN74BCT8374ADWR | Texas Instruments | |
集成电路 逻辑 - 专用逻辑 | IC scan test device W/FF 24-soic |
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SN74BCT8374ADWRE4 | Texas Instruments | |
集成电路 逻辑 - 专用逻辑 | IC scan test device W/FF 24-soic |
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SN74BCT8374ADWRG4 | Texas Instruments | |
集成电路 逻辑 - 专用逻辑 | IC scan test device 24soic |
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SN74BCT8374ADWE4 | Texas Instruments | scan test devices with octal D-type edge-triggered flip-flops | ||
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SN74BCT8374ADWG4 | Texas Instruments | 半导体 集成电路(IC) | 特定功能逻辑 scan test device |
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